设备名称:
Nikon N-SIM S（结构光照明显微镜）
设备简介:
SIM （Structured illumination microscope ）技术是一种易操作的超分辨率成像技术，相比其他超分辨成像技术（PALM/STORM和STED），SIM成像对荧光蛋白或分子要求少（常规荧光探针即可），时间分辨率高（可用作活细胞成像），荧光光子利用率高。该设备适用于在生理状态下观察细胞内的精细结构变化，以及在亚细胞水平或分子水平上观察蛋白等生物大分子间相互作用。
技术参数：
1. 物镜：10X, 20X, 40X, 60X(W), 100X (Oil), 100X (Sil)；
2. 激光：405nm, 488nm, 561nm, 640 nm；
3. 检测器：两个ORCA-Flash 4.0sCMOS相机；
4. 最高分辨率：
3D-SIM模式： XY方向115 nm，Z方向269nm；
TIRF-SIM模式： XY方向86 nm；
5. 该显微镜配有活细胞培养装置和计算机工作站。
联系方式:
房间号：224 负责人：靖静 办公室电话：68750166 邮箱：jingj@whu.edu.cn
